在經過正確校準的IL / RL儀表上進行測量時，我的某些跳線顯示出增益。這怎么可能？由于跳線無法獲得增益，是儀器有問題嗎？如果(guo)您的IL / RL測量(liang)儀(yi)已正確校準，則儀(yi)器可能沒有任(ren)何(he)問(wen)題(ti)。要了解(jie)這(zhe)個令人費解(jie)的問(wen)題(ti)，我們(men)必須查看測量(liang)方法。
請記住，不(bu)可能單獨測(ce)量跳線。它需(xu)要連(lian)接到(dao)某(mou)物–需(xu)要測(ce)試(shi)跳線
一種(zhong)測(ce)(ce)試方法使用(yong)一對(dui)測(ce)(ce)試跳線：啟(qi)動(dong)和接收。將(jiang)它(ta)們(men)連接在一起(qi)以進行參考，然后將(jiang)被測(ce)(ce)設備（DUT）插入它(ta)們(men)之間。這(zhe)樣就得(de)出了跳線的(de)總(zong)插入損耗，包括兩(liang)端的(de)連接。IL儀(yi)表僅報告基準和測(ce)(ce)量連接之間的(de)功率(lv)差(cha)異。
如果測試(shi)光纖(xian)(xian)連(lian)接器是(shi)完美的(de)，則(ze)它們在(zai)參考階段不會造(zao)成任何(he)損(sun)失。測量的(de)任何(he)損(sun)失都可能(neng)是(shi)由于DUT的(de)連(lian)接器或(huo)光纖(xian)(xian)中(zhong)(zhong)的(de)缺陷(xian)。如果測試(shi)光纖(xian)(xian)存在(zai)幾何(he)誤差(cha)，則(ze)參考時偏離適(shi)當居中(zhong)(zhong)狀態可能(neng)會產生損(sun)耗。
在最壞的(de)情況下，偏移量(liang)(liang)將為(wei)180度。如果DUT恰(qia)好在每(mei)個(ge)端都有偏移量(liang)(liang)以匹(pi)配測(ce)試光纖，則在某(mou)種程度上它將(jiang)抵消偏移量的影響。因此，測量損失（由于這種影響）將(jiang)小于參考損失，并且(qie)光纖的插入(ru)損(sun)耗將為負，這似乎具有增益！
通常，測試跳線偏移將相對于被測設備處于隨機方向，其他損耗影響可能更大。效果是從DUT的真實IL中隨機增加或減去少量。但是有時會出現實際的增益。
作為附帶說明，我建議使用高質量的測試跳線，以幫助確保準確的插入損耗測量。顯然，要確定跳線的性能，必須使用其他光纖，這些光纖的質量會影響被測設備的測量結果。您可以使用高質量的跳線，但是對于您的生產設施而言，它們可能會非常昂貴。另一方面，使用來源不明的廉價跳線不是一個好主意。我建議您購買由成熟的一流制造商生產的高質量跳線，嘉富在此提供。
如果您(nin)對測試跳線有(you)疑問，請(qing)隨時(shi)與我們的技術專家聯系，我們將盡快答復。我們的目標是提供信息和教程，以(yi)便您(nin)可以(yi)不斷改善測試過程。
如何準確測量IL / RL –本文討論了為什么測量插入損耗和回波損耗很重要，以及如何精確測量IL / RL。另外，我提供有關在測量RL時是否使用心軸套，折射率匹配凝膠或光學時域反射儀（OTDR）的具體建議。
IL / RL差的原因是什么？–在這次詳盡的討論中，我處理了多個生產問題，這些問題可能會導致不良的插入損耗和回波損耗，并提出了解決這些問題的具體建議。
插入損耗測量，而不是一項瑣碎的任務–如果您的生產設備是新的，是否應該制造自己的發射跳線？至少在最初，這可能不是一個好主意。另外，您知道發射跳線應該使用相同的光纖類型，而不僅僅是相同的大小嗎？
環通量–相對非技術性的概述– IEC 61280-4-1標準規定了在發射到被測設備中時光（通量）的分布。“環繞光通量”是一種相當宏偉的方式，可以說出磁芯內給定尺寸的每個圓圈內的光量。
雙向測(ce)試是將所有(you)光學測(ce)試時間縮短一半的靈丹(dan)妙藥嗎(ma)？許多光纖裝配廠都(dou)希望進行雙向測試以節省時間。但是，有(you)些(xie)不(bu)能正確使用(yong)此測試方法(fa)。
