我經常聽到客戶抱怨，盡管在其光纜組件生產過程中沒有發生任何變化，但其產品的實測插入損耗（IL）和回波損耗（RL）值卻不如以前。測量設備有問題嗎？好吧，這是可能的，但可能性很小。
顯然(ran)情況(kuang)已經改變(bian)。如果不是(shi)測量設備，則必(bi)須是(shi)產品(pin)或測量設置。隨(sui)著時(shi)間(jian)的(de)流逝，生產過程(cheng)可(ke)(ke)能(neng)會(hui)變(bian)成熟悉的(de)，可(ke)(ke)能(neng)很無聊的(de)例行(xing)程(cheng)序。操作員在(zai)清(qing)潔上可(ke)(ke)能(neng)會(hui)變(bian)得一(yi)絲不茍(gou)，使(shi)用拋光膜的(de)時(shi)間(jian)可(ke)(ke)能(neng)超過適當的(de)時(shi)間(jian)，甚(shen)至采取捷徑。最終，這會(hui)造成巨大的(de)損失，并使(shi)產量下降(jiang)。
假設您已經通過徹底清理程序并將其重置為嚴格的生產準則來消除了這種可能性。但是問題仍然存在。在這一階段，“黃金標準”產品是有用的–仔細保存您以前生產的最佳產品的“已知”示例，并記錄了非常好的IL和RL值。使用您當前的嚴格程序，重新測量此金標準產品。它仍然應該看起來不錯。
我寫過，不能單(dan)獨對產品(pin)進行IL和RL測(ce)(ce)試。（請(qing)在此(ci)(ci)處閱讀有關此(ci)(ci)主題的更(geng)多信息。）請(qing)記住，我們(men)正在測(ce)(ce)量光纖連接器損耗，并且(qie)被測(ce)(ce)設備（DUT）需要連接到測(ce)(ce)試光纜（也稱為跨接光纜，參(can)考光(guang)纜或測試(shi)線）。重要的(de)是要注意，測試(shi)光纜的(de)(de)質量(liang)和(he)(he)狀況直(zhi)接關(guan)系(xi)到被測產品(pin)的(de)(de)IL和(he)(he)RL測量(liang)值。
評估測試光纜的質量和(he)狀(zhuang)況(kuang)
首先，確保測(ce)試光纖連接(jie)(jie)器清潔。接(jie)(jie)下(xia)來，仔細檢查(cha)以確保它們處于良(liang)好狀(zhuang)態。請記住，光纖連接(jie)(jie)器和連接(jie)(jie)套筒都不(bu)會(hui)永(yong)遠持(chi)續下(xia)去。它們會(hui)隨著使(shi)用(yong)而降解(jie)，而不(bu)僅(jin)僅(jin)是(shi)劃痕(hen)和凹痕(hen)。滑(hua)動表面磨損(sun)。隨著配合變得松散，對齊將受到影響。
在更換測試連接(jie)器之前(qian)，可以(yi)進(jin)行幾次配合？有一個確(que)切的數字可以(yi)使用。但是，由于連接(jie)器的類型和(he)質量以(yi)及操作(zuo)員的技能，很難給出(chu)確(que)切的答案(an)。
假設更換所有測試光纜和耦合器，將使您的(de)(de)金標準產(chan)品恢復到以前的(de)(de)良(liang)好測量值(zhi)。這(zhe)是有用的(de)(de)信息。花一(yi)分(fen)鐘時間確(que)定這(zhe)些特定的(de)(de)測試(shi)光纜大約進行了多少(shao)次配合。你(ni)是幾號到達的？現(xian)在您知(zhi)道多少(shao)聯軸器太多了！
確定(ding)使用限制并確定(ding)更換時間表
我建議(yi)您將使(shi)用限制(zhi)設置為上述數字的一(yi)半。權衡(heng)持續的更(geng)換成本(ben)和更(geng)換測試(shi)光(guang)纜(lan)所(suo)需(xu)的時間。如果(guo)讓產(chan)品進入故障(zhang)階段，這與成本相比如何？
經常監(jian)視金標準設備的機制可能有助于(yu)確(que)定測試光纜的(de)使(shi)用限(xian)制。（不要過于頻繁地進行此操作，否則(ze)您的(de)金標準光纜會退化。）這種監視方式(shi)將幫助您制定合(he)理的(de)更換(huan)時(shi)間表。
這是一個有用的提示：如果您(nin)使用Viavi MAP / PCT系統，它(ta)可以(yi)跟蹤測量跳線(xian)的使用情(qing)況，并在光(guang)纜(lan)超(chao)過用戶定義的限制時發出警告。如果您使用其他(ta)測(ce)試儀器(qi)，建議您檢查(cha)一下它(ta)是否可以(yi)跟蹤使用情況，并(bing)提供此類警告。
實施強大(da)的過程(cheng)控(kong)制
測(ce)試光纜的(de)使用壽命確實有(you)限。而(er)且壽命會(hui)有(you)所不同。例如，不正確的(de)配合或清潔會(hui)潛在地損壞測試光(guang)纜的端面，從而(er)使其無法使用。
實施(shi)強大的(de)過(guo)程控制將大大延(yan)長測試光(guang)纜的(de)壽命，并確定何時需要更換(huan)測(ce)試光纜。如上(shang)所述，我建(jian)議：
（1）經常檢查配合之間的測試光纜端面(mian)
（2）遵守(shou)良好的清潔(jie)習(xi)慣(guan)
（3）使用“知名”光纜(lan)進(jin)行(xing)故障排除
如果您發現光纜組件的IL / RL結果降低，建議您首先建立嚴格的生產控制。接下來，請按照本文中的指南實施步驟，以評估測試光纜的狀況(kuang)，跟蹤使(shi)用情(qing)況(kuang)并制定(ding)合理的更換時間表。
