我相信每個光纖制造公司都應該建立自己的測試線。當然，這些測試線必須提供準確，可重復的插入損耗（IL）測試結果。
本文(wen)提供了指導，以自信地構(gou)建(jian)和使用(yong)符合(he)EF標準的“模態透明(ming)”測(ce)試線（也(ye)稱為參考線和發射線）。
如(ru)何建(jian)立(li)自己的模態透明(ming)多模測試引線簡而(er)言之(zhi)，為什么“ EF遵從性”很重要？如今，大(da)多數多模測試(shi)系(xi)統的設(she)計和制造(zao)都是為(wei)了確保符合EF標(biao)準(zhun)的光輸出。IEC發起了EF-Compliance標(biao)準(zhun)，以促進標(biao)準(zhun)的多模測試(shi)啟動條件(jian)，從而獲得一致的，可重復的插入(ru)損耗測試(shi)結果。
符合EF的發(fa)射條件(jian)減少了(le)“過滿(man)”和“未(wei)滿(man)”發(fa)射條件(jian)的發(fa)生，這兩種情況都(dou)會(hui)導致IL測試結果不(bu)準確：
發射(she)過(guo)量(liang)的條件–在發射(she)過(guo)量(liang)的條件下，離開測試導線的光(guang)功率(lv)會以較大(da)的“斑(ban)點(dian)尺寸”散布-可能大(da)于(yu)光(guang)纖(xian)(xian)纖(xian)(xian)芯的尺寸。當連(lian)接(jie)到(dao)被測設備(bei)（DUT）時，即使接(jie)收(shou)連(lian)接(jie)的質量(liang)很(hen)好，該點(dian)外(wai)徑上的大(da)量(liang)光(guang)功率(lv)也不會耦合到(dao)接(jie)收(shou)光(guang)纖(xian)(xian)的纖(xian)(xian)芯中。結果(guo)增加(jia)了(le)（錯誤地(di)很(hen)差(cha)）插入損耗測試結果(guo)。
欠填充(chong)的發(fa)射條件–相反，在(zai)(zai)欠填充(chong)的發(fa)射條件下，光功率(lv)以集中在(zai)(zai)磁芯中心的小的“斑(ban)點(dian)大(da)小”從測(ce)試導線中退出。連接(jie)到(dao)DUT時(shi)，即(ji)使兩個(ge)纖(xian)芯嚴(yan)重錯位，大(da)多數光也(ye)很容易耦合到(dao)接(jie)收光纖(xian)的纖(xian)芯中。結(jie)果(guo)是錯誤的良好插入損耗測(ce)試結(jie)果(guo)。
請記住，客戶的傳輸設備的發射條件未知，并且會有所不同，具體取決于光源（激光或LED）的類型和光源制造商。符合EF標準的目的不是要標準化最終用戶傳輸設備的啟動條件，而是要標準化光纜組件制造商的測試設備，以便可以將所有光纖制造公司的測試結果“一分為二”。
很有可(ke)能，您不會(hui)在整(zheng)個(ge)測試設置中都保持EF-Compliance。原因如下(xia)：
許多光纖制造公司因不(bu)了解(jie)僅使(shi)用(yong)符合EF的(de)(de)光(guang)源而不(bu)足以確保從(cong)測試導線發出(chu)的(de)(de)光(guang)仍然符合EF的(de)(de)規(gui)定而出(chu)錯。的(de)(de)EF兼容光(guang)源確保光(guang)離(li)開所述源具有受(shou)控的(de)(de)和(he)特定的(de)(de)模式條(tiao)件。制造商有責(ze)任確保您(nin)的(de)(de)測試線由高質量的(de)(de)連接器(qi)和(he)光(guang)纖構成，以保持符合要求的(de)(de)模態條(tiao)件。
將(jiang)劣質的測(ce)試(shi)導線（或測(ce)試(shi)系統中的開關(guan)或任(ren)何其他組件）連(lian)接到光源(yuan)，可能會(hui)極大(da)地改變光源(yuan)的模態條件，即使光源(yuan)本身確實符(fu)合(he)EF。現在，從測(ce)試(shi)線發出的光不再受(shou)到控制，可能不符(fu)合(he)EF標(biao)準。
您如何維持EF-Compliance？
確保在整(zheng)個測(ce)試過程中保持EF-Compliance的最佳方法是確保測(ce)試系統光(guang)路內的所有光(guang)纖(xian)（開關，測(ce)試導線(xian)等）盡(jin)可(ke)能“模(mo)(mo)態透明”。也(ye)就是說，應將整(zheng)個光(guang)路中的光(guang)纖(xian)和連接設計為對改變(bian)光(guang)輸入的模(mo)(mo)態條件影響(xiang)最小。
通常，光纜組裝生產商會使用低成本/低質量的光纖和連接器來構建自己的多模測試線，而無需考慮這些因素如何影響輸出模態條件。理想情況下，您可以使用市售的EF表直接測量測試導線輸出的EF-Compliance。但是，實際情況是，很少有光纖制造公司在此設備上進行投資。這是相對昂貴的，制造商傾向于將多模組件視為光纜組件的“低級”，而不應關注“高級”單模組件所需的測試細節。但是，即使沒有專用的EF測量儀，也不難構建能夠高度自信地維護EF-Compliance的測試導線。
要構建“模(mo)態透明”多模(mo)測(ce)試線以(yi)幫助維持符(fu)合(he)EF標準的測(ce)試光源(yuan)的模(mo)態條件，您應該：
使(shi)用可(ke)用的(de)最(zui)高(gao)質量的(de)光纖，并按照行(xing)業標(biao)準進行(xing)拋光–大多數主要的(de)光纖制造公司都(dou)提(ti)供高質量(liang)的計量(liang)級(ji)多(duo)模(mo)光(guang)纖。詢問(wen)您的光(guang)纖供應商；他(ta)們(men)應該熟(shu)悉這(zhe)種纖維(wei)。
用高質量的連接器端接這些光纖–我建議在所有多模測試導線上使用優質的單模光纖(xian)連(lian)接器。這些將具有足夠的套圈孔同心度和孔內徑公差。使用具有高同心度/低直徑套圈孔的連接器。這一點很重要，不僅在用于測試的測試導線的末端，而且對于將要連接到光源的測試導線的末端，也很重要。如果那兩個光纖芯未正確對準，則模態條件將發生改變。
拋(pao)光(guang)密(mi)封(feng)墊圈，使其(qi)符合標準的(de)單(dan)模端面幾何形狀和外觀檢(jian)查標準–這有助于確保所有連接器配合中的(de)最佳芯(xin)對芯(xin)接觸。
底線
您可以(yi)建立(li)并放(fang)心使用自己的“模態透明(ming)”多模測(ce)試(shi)線，以(yi)充分維(wei)持來自EF兼容(rong)光源的輸入光的模態條(tiao)件。這將(jiang)為您提供更(geng)準確，可重復的IL測(ce)試(shi)結(jie)果！
