您每天都可以與我們聯系，以獲取有關光纖組件測試和檢查支持的資源。IL / RL結果下降是我們提供的技術專長，用于建立嚴格的生產控制。隨著我們制定定制的程序準則來評估測試光纖的狀況，軌道使用情況以及合理的更換時間表，許多有用的提示變得突出。
為了快(kuai)速參考，我們整理了一些技(ji)巧，可以幫助您改善連接過程(cheng)。
提(ti)示(shi)1：參考(kao)后檢查(cha)測試設置(zhi)的穩定性
執行IL參(can)考(kao)后，將測試導線直接(jie)連(lian)接(jie)到功率計，并在工作臺上稍微移動(dong)參(can)考(kao)光(guang)纖(xian)時(shi)觀察(cha)IL值。功(gong)率電平變化應該(gai)很小（最(zui)多(duo)0.00 +/- 0.02左右）。如果(guo)在移(yi)動(dong)參(can)考光纖(xian)時功率水平發生變化，則測試布局中可能存在問題（彎曲/擠壓光纖或光纖適配器連接不良等）。
提示2：確(que)定高損(sun)耗原因(yin)
較高(gao)的波長(chang)對(dui)光(guang)(guang)纖(xian)過(guo)度彎曲造(zao)成的損(sun)(sun)耗(hao)更(geng)敏(min)(min)感(gan)。較低的波長(chang)對(dui)適配器中光(guang)(guang)纖(xian)未(wei)對(dui)準造(zao)成的損(sun)(sun)耗(hao)更(geng)敏(min)(min)感(gan)。如果您正(zheng)在測試SM光纖(xian)并且無法達到IL規格，請查看1310nm和1550nm處的IL結果。在理想環境中，兩個結果都應該“相等”（大約在0.02 dB之內）。如果1550的結果遠高于1310，則造成損耗的主要原因可能是組件中某處的纖維過度彎曲。如果1310結果遠高于1550，則造成損耗的主要原因可能是光纖連接器配合處光纖與光纖之間的對準不良。
提示3：在連接之前，確保(bao)密封(feng)墊圈干燥(zao)
酒精通常(chang)在(zai)配(pei)對之前用于清潔(jie)端(duan)(duan)面(mian)。如果(guo)端(duan)(duan)面(mian)上殘留任何液(ye)體，則在(zai)與另一個連(lian)接(jie)器配(pei)合使用時，它(ta)可以充當“折射率(lv)匹配(pei)”的液(ye)體，從(cong)而導致RL值異常(chang)高(gao)。為了確(que)保獲得準確(que)的RL結果(guo)，請確(que)保端(duan)(duan)面(mian)清潔(jie)并在(zai)配(pei)對前干燥（注(zhu)意：這(zhe)是(shi)始終(zhong)建議(yi)使用99％+的純酒精進行(xing)清潔(jie)的另一個原因，因為較低(di)的純度包含(han)較高(gao)百分(fen)比(bi)的水，并且不(bu)會很快蒸發）。
提示4：不可(ke)能(neng)出現IL負值(zhi)
當您將光插(cha)入光(guang)纖組件的(de)一(yi)(yi)端時，另一(yi)(yi)側總會有更(geng)少的(de)光出射-總是(shi)有一(yi)(yi)定量(liang)的(de)光損失-無(wu)源(yuan)光纖組件不(bu)可(ke)能發(fa)光。如果您在光纖組(zu)件上測(ce)試IL，結果(guo)為負值（意味著，您得到的組(zu)件OUT的光比測(ce)試導線所輸(shu)入(ru)的更多），則您的設(she)置(zhi)參考(kao)無效，需(xu)要歸零再次。
提示5：保護探測器
為了(le)獲得(de)準確(que)的IL結果(guo)，至關重要的是，測(ce)(ce)試系統的光電(dian)探(tan)測(ce)(ce)器必須干(gan)凈且無刮(gua)擦或其他此類缺陷。應(ying)當定(ding)期檢(jian)查檢(jian)測(ce)(ce)器的表面(mian)，并根據需要進行清(qing)潔(jie)（用(yong)5倍放大(da)倍數(shu)的放大(da)鏡檢(jian)查就(jiu)足夠了(le)）。但是在清(qing)潔(jie)時(shi)要非常小心，請參閱測(ce)(ce)試系統用(yong)戶(hu)手冊(ce)以了(le)解正確(que)的檢(jian)測(ce)(ce)器清(qing)潔(jie)方法-一些(xie)檢(jian)測(ce)(ce)器表面(mian)具(ju)有抗反(fan)射涂層膜，如(ru)果(guo)用(yong)酒精清(qing)潔(jie)，則該(gai)膜會降解。
損壞的(de)光(guang)電探測器可能會導致主要的(de)測試問(wen)題，并且(qie)維修起(qi)來非常昂貴(gui)且(qie)耗時。請務必與(yu)設備制造商聯系(xi)，以進行推薦的(de)光(guang)電探測器保養。
提示6：測試(shi)線(xian)質量(liang)
正如(ru)他們所說，“一條鏈是(shi)最強的(de)(de)(de)(de)(de)(de)環節，卻是(shi)最薄弱(ruo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)環節”。對于(yu)IL和(he)RL測(ce)試(shi)系統，最薄弱(ruo)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)環節通常是(shi)測(ce)試(shi)線(xian)。即(ji)(ji)使(shi)使(shi)用最好的(de)(de)(de)(de)(de)(de)信號源和(he)功率(lv)計，如(ru)果您的(de)(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)試(shi)線(xian)質量(liang)較差，則(ze)IL結果的(de)(de)(de)(de)(de)(de)準確(que)性和(he)可重(zhong)(zhong)復性也很(hen)差。測(ce)試(shi)線(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)芯(xin)對套圈外(wai)徑(jing)同心度對于(yu)獲得準確(que)且可重(zhong)(zhong)復的(de)(de)(de)(de)(de)(de)IL結果至關重(zhong)(zhong)要-尤其是(shi)在測(ce)試(shi)單模時，因(yin)為芯(xin)體(ti)很(hen)小（?8um），即(ji)(ji)使(shi)很(hen)小的(de)(de)(de)(de)(de)(de)離心率(lv)也會(hui)(hui)導致明顯的(de)(de)(de)(de)(de)(de)芯(xin)體(ti)偏移與DUT配(pei)合使(shi)用時，會(hui)(hui)給出(chu)錯誤的(de)(de)(de)(de)(de)(de)IL測(ce)量(liang)值。
測試(shi)導(dao)線套圈(quan)應(ying)具(ju)有最高質(zhi)量和最嚴格(ge)的(de)尺(chi)寸(cun)(cun)公(gong)差，并(bing)且應(ying)拋(pao)光以達(da)到或超過幾何和外(wai)(wai)觀的(de)典型(xing)行(xing)業標(biao)準，并(bing)且芯對套圈(quan)的(de)外(wai)(wai)徑偏(pian)心(xin)值為(wei)0.5um或更少。（同樣(yang)，對于(yu)(yu)較小的(de)纖芯尺(chi)寸(cun)(cun)，這比較大的(de)纖芯尺(chi)寸(cun)(cun)更為(wei)重要，因(yin)為(wei)對于(yu)(yu)較小的(de)纖芯纖維，任(ren)何偏(pian)心(xin)效果都(dou)會更加明顯）。當其他(ta)一(yi)切看(kan)起來(lai)不(bu)(bu)錯(cuo)，但結果似乎仍然(ran)不(bu)(bu)正確時，請考慮存(cun)儲(chu)并(bing)使用(yong)主光纖(xian)測試測試線。
提示7：測試前設備連接器的(de)檢查(cha)和清潔
測試之前，在儀器的(de)動態范圍內，設(she)備接口(kou)連(lian)接器的(de)“空中(zhong)參考”回波(bo)損耗讀(du)數至少應為65 dB，這(zhe)一點很重要。MAPS通常為-75及以下。檢(jian)查過程(cheng)取決于(yu)設(she)備制造。致電我們了解(jie)詳情(qing)。
此(ci)外，必須遵守使(shi)用前(qian)的(de)“檢查和清潔”舊規定。設備連接器上的(de)灰(hui)塵和光(guang)纖端(duan)面損壞(huai)(huai)會影響讀數，并可能(neng)損壞(huai)(huai)DUT。合適的(de)探頭范圍和尖端(duan)是絕對的(de)，因為(wei)大多數連接器接口都不容易接近。您(nin)不能(neng)僅依靠(kao)棉(mian)簽(qian)清潔。
您是(shi)否有(you)關于(yu)測試和(he)檢查(cha)的特定問(wen)題？
我們在這里為您提供幫(bang)助！向我們發(fa)送您的問題(ti)，我們將(jiang)盡力提供指導。嘉富致力于(yu)幫(bang)助您制(zhi)造世界上最好的光纖組件。
