測量單模跳線的插入損耗似乎很簡單，但要考慮一些復雜因素。
插入損耗(hao)是一(yi)個相(xiang)對的度量(liang)，它(ta)是在光電路中(zhong)添加(jia)一(yi)個附加(jia)無源(yuan)元件時的功率(lv)降低。所以，測(ce)量(liang)插入損耗(hao)是一(yi)個兩部分的過程-測(ce)量(liang)通過基準路而到來的功率(lv)，那么DUT后(hou)電源(yuan)已插入。區別是IL。
未配(pei)對光纖(xian)連(lian)接(jie)器(qi)的(de)損耗可(ke)以(yi)通過數學估算，但無法測(ce)量，只能測(ce)量一(yi)對配(pei)對連(lian)接(jie)器(qi)的(de)連(lian)接(jie)。
在(zai)實際的測量(liang)設(she)(she)置中，測試(shi)光(guang)纖用于向（從）被測設(she)(she)備傳輸（有時收集）光(guang)。因此，這些(xie)測試(shi)光纖的(de)質量與DUT報(bao)告的(de)IL有直接關(guan)系，因為測試光纖始終是所測(ce)連(lian)接的一部分(fen)(fen)。不幸的是，不可能以任何(he)有意(yi)義的方(fang)式來(lai)劃分(fen)(fen)測(ce)得的測(ce)試(shi)連(lian)接器/ DUT連(lian)接器損耗(hao)，并將損耗(hao)的一部分(fen)(fen)分(fen)(fen)配給測(ce)試(shi)光纖，將(jiang)其余部分分配給DUT。如果(guo)測試(shi)(shi)連接(jie)器(qi)在每個細(xi)節上(shang)都是完美(mei)(mei)的，則所(suo)有(you)損(sun)耗都可(ke)歸因(yin)于DUT，但沒(mei)有(you)光(guang)纜(lan)是完美(mei)(mei)的，所(suo)有(you)光(guang)纖連接(jie)器(qi)都會(hui)引入一些損(sun)耗，盡(jin)管損(sun)耗很小，包括(kuo)測試(shi)(shi)光纖。
連(lian)接損(sun)耗(hao)的很大一部分是由(you)于光纖連接(jie)(jie)器的(de)(de)一個或(huo)多個幾何參數不(bu)匹配造成的(de)(de)。考慮“橫(heng)向纖芯(xin)偏(pian)移”，其(qi)中(zhong)纖芯(xin)與套圈并(bing)非完全(quan)同心(xin)。如果配對的(de)(de)連接(jie)(jie)器具有(you)不(bu)同的(de)(de)偏(pian)移量(liang)或(huo)沿不(bu)同的(de)(de)方向偏(pian)移，則某些光將被(bei)引(yin)導到包層中(zhong)并(bing)丟(diu)失。這種偏(pian)移可能是由(you)于芯(xin)子未(wei)居中(zhong)的(de)(de)光纖，帶(dai)有(you)不(bu)同心(xin)的(de)(de)光纖孔的(de)(de)不(bu)良插芯(xin)或(huo)組裝不(bu)良導致的(de)(de)雜物(wu)將光纖推向插芯(xin)孔的(de)(de)一側。對于單(dan)模連接(jie)(jie)，偏(pian)移為0.3微(wei)米(mi)將產(chan)生約0.4 dB的(de)(de)損(sun)耗
跨一(yi)(yi)對(dui)連接器的(de)失調損耗(hao)的(de)一(yi)(yi)個重要方面(mian)是(shi)，它不是(shi)一(yi)(yi)個簡(jian)單的(de)標量(liang)，而是(shi)取(qu)決于失調的(de)方向(xiang)。如果(guo)偏移量(liang)具有相(xiang)同的(de)程度和方向(xiang)，則磁芯(xin)將匹配，并(bing)且損耗(hao)可能很小，但以相(xiang)反的(de)方向(xiang)定向(xiang)則會(hui)產生高損耗(hao)。
這(zhe)種定向效應(ying)會產生一(yi)些令人(ren)不安的(de)(de)結果。在(zai)雙測(ce)試光纖(xian)測(ce)量中，如果發射和(he)接(jie)收光纖(xian)在(zai)相反方向上有偏移，則參(can)考路徑(jing)（將它們連接(jie)在(zai)一(yi)起時）將具有明顯的(de)(de)損耗。
